Tecnología
Fundada en 1994, SAKI innovó en un mercado de máquinas de inspección abarrotado y competitivo con una tecnología de inspección única de alta velocidad.
Desde entonces, ha seguido creciendo junto con sus clientes, detectando nuevas necesidades del mercado y desarrollando nuevos productos.
Presentamos la última tecnología que respalda las inspecciones avanzadas de SAKI.
Tecnología SAKI
Tecnología de inspección de alta velocidad
Imágenes de área amplia para acortar el tiempo del ciclo
Estructura de hardware que permite el movimiento de alta velocidad del cabezal óptico.
Procesamiento de imágenes avanzado para reducir el tiempo de espera innecesario
Tecnología de adquisición de imágenes 3D
Tecnología de corrección de la superficie del sustrato.
Tecnología de generación de imágenes.
Reducción del tiempo de gestión de la biblioteca
Tecnología de inspección por rayos X
La exclusiva tecnología Planar CT de SAKI
Tecnología de procesamiento de imágenes que aumenta la capacidad de detección de defectos.
Inspección de alta velocidad que también admite el procesamiento en línea
Solución SAKI
Solución de inspección con IA
AI Assist: utiliza IA para reevaluar, lo que reduce la carga de trabajo del operador.
Inspección de IA (OCR de IA)
Soluciones de inspección de semiconductores
Inspección de microbumps 3D
Medición de la altura de la superficie de la matriz
Inspección simultánea por rayos X de microprotuberancias, protuberancias C4 y protuberancias BGA
Filosofía de diseño de SAKI: Actualizarse a la excelencia.
Estructura modular personalizable para adaptarse a las necesidades de inspección
Elementos expandibles seleccionables específicos para las necesidades de inspección
Solución total
Contribuyendo a reducir costes y ahorrar mano de obra.
Contribuyendo a la mejora de la calidad y a las fábricas inteligentes